hast高壓加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn)：

1)采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率。

2)獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3)門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

4)試驗(yàn)前排冷空氣；試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

5)超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).

6)水位保護(hù)，透過試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

7)tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.

8)二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.

9)安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

10)偏壓測試端子耐壓可達(dá)3000V(選配）

11)USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

hast蒸汽老化試驗(yàn)箱用途：

加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。

hast壽命試驗(yàn)箱（Highly Accelerated Stress Test），也叫做快速老化試驗(yàn)箱，是一種常用的電子元器件可靠性測試設(shè)備。它主要用于模擬高溫高濕環(huán)境下的加速老化條件，以評估電子元器件在環(huán)境下的可靠性和壽命。

hast壽命試驗(yàn)箱采用高壓飽和蒸汽的方式，將樣品置于高溫高濕環(huán)境中，并施加一定的電氣應(yīng)力，以模擬真實(shí)環(huán)境中的潮濕條件。通過加速老化過程，可以在相對較短的時(shí)間內(nèi)觀察到可能會發(fā)生的故障和退化現(xiàn)象，從而提前檢測和改善電子元器件的可靠性。

在HAST壽命試驗(yàn)中，樣品通常放置在密封的試驗(yàn)室中，具有溫度和濕度控制功能。試驗(yàn)箱還可能包括振動或機(jī)械應(yīng)力等其他環(huán)境因素，以更準(zhǔn)確地模擬真實(shí)工作環(huán)境。

HAST壽命試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子元器件、半導(dǎo)體芯片、集成電路等領(lǐng)域的可靠性測試中。通過該設(shè)備，制造商可以評估產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的性能和壽命特性，優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，以滿足市場需求和用戶期望。